热门产品
浏览历史
296-33848-5-ND
- 型号 :
- SN74BCT8373ANT
- 制造商 :
- Texas Instruments
- 批号 :
- -
- 简介 :
- IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
- PDF :
- 库存 :
- 60
- 货期 :
- -
| 位数 | 8 |
|---|---|
| 供应商器件封装 | 24-PDIP |
| 包装 | 管件 |
| 安装类型 | 通孔 |
| 封装/外壳 | 24-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 系列 | 74BCT |
| 逻辑类型 | 扫描测试设备，带 D 型锁存器 |
- 产品评论
没有评论